第三代等离子技术产品在华发布可安全高效实现气体分离与检测

2018-04-17 23:57
低温与特气 2018年3期
关键词:气相色谱仪载气痕量

2018年 6月23日,作为全球等离子发射检测器主要供应商LDETEK公司授权的中国区技术服务中心,北京华宇博泰科技发展有限公司在北京发布了5项气体分析检测新技术及相应新设备产品。这意味着世界先进的气体分析检测技术设备将便捷高效地服务于国内企业。

会上发布的气体分析检测新技术包括第三代低温等离子发射技术、氧氩分离技术、痕量氖(Ne)的分析技术、氮气做载气的等离子体发射技术,相应的新设备则包括基于第三代等离子发射技术而开发的MD2(MultiDetek第二代)专用气相色谱仪和PlasmaDetek 3检测器等。

据北京华宇博泰科技发展有限公司总经理黎文宇介绍,第三代等离子发射技术的发布和应用,为我国的气体产业升级、石油化工、冶金、环保、生化医疗等领域提供了一种高效分析手段,特别在气体微量含量分析领域具有应用优势,LDETEK成为世界上首家拥有此技术的厂家。基于这一技术,该公司开发了一系列衍生技术和产品。其中,氧氩分离技术采用了专有的色谱柱和光谱滤光技术,可减少检测的中间环节以及误差和误操作,提高安全性,适用于高纯气体、特种气体、电子气体行业的分析应用;痕量Ne的分析技术已在中国计量院等单位得到了应用和验证,对Ne的检测有很高的响应度,可以实现1ppb等级的痕量Ne分析;氮气做载气的等离子体发射技术可以替代火焰离子化检测仪(FID),检测烃类、挥发性有机化合物(VOCs)等气体,可达到ppb级分析灵敏度,且运行成本极低。

“基于第三代低温等离子发射技术,LDETEK开发出MD2专用气相色谱仪新产品和PlasmaDetek 3检测器产品。” MD2专用气相色谱仪可实现用N2作为载气、氧氩分离以及痕量Ne检测。与MD2色谱仪配套的PlasmaDetek 3检测器产品不仅可更换滤光片、可加热,还具有多方面的应用优势。一是具有较高的选择性,可最大程度避免主组分干扰,且其直线型结构可实现无死体积、吹扫快速。二是根据不同的检测要求,氦(He)、氮(N2)、氩(Ar)、氖(Ne)均可作为载气,且检测过程无放射性、无放电电极,能避免载气或样品气的污染。三是检测灵敏度高,同等条件下,可达0.5ppb~1ppb的检出限,特别对苯、VOCs等气体杂质均有很高的响应,如Ne、H2S、COS、C6H6均能达到1ppb检出限。四是不需使用脱氧肼或脱氧柱就能实现对O2、Ar的直接检测。

北京市华宇博泰专业提供微量痕量气体分析仪器和分析应用技术,集气体分析业务的设计、生产、集成、销售、服务为一体,可实现一站式的“交钥匙工程”服务。由华宇博泰主导制订的国家推荐性标准《气体分析—等离子发射色谱法》已于去年8月完成所有测试和审核,将为气体生产及应用等行业提供一套可靠的微量痕量分析方法。

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