关于电力电子电路智能故障诊断技术探究

2018-11-16 09:46廖至毅
科学与财富 2018年28期
关键词:探究

廖至毅

摘 要:随着我国经济的不断发展,人们逐渐进入到了信息时代,在现如今的信息时代当中,电力电子电路技术随之出现在了人们的生活当中,电力电子电路技术的到来不仅在极大的程度上推动了我国社会经济的进一步发展,而且电力电子电路技术在不断的推广当中,逐渐得到了人们的广泛运用与青睐。近年来,为了更好的满足现如今社会发展的需求,我国随之出现了大量的电力电子产品,电力电子产品的大量融入也将在极大的程度上给电子电路造成威胁,甚至影响到整个电路的安全性及稳定性,为了避免这一问题的出现,以及提高电力电子产品的质量,电力电子电路智能故障诊断技术随之出现在了人们的生活当中。本文也将针对电力电子电路智能故障诊断技术进行相关的研究。

关键词:电力电子电路; 智能故障诊断技术; 探究

引言:随着我国经济的不断发展,电力电子电路智能故障诊断技术随之得到了人们的高度重视。在时间的不断推移之下,我国的电力电子产品随之营运而生,且生产数量也在随着时间增长,电力电子产品的到来虽然能在极大的程度上给人们的生活带来便捷,以及推动我国社会经济的进一步发展,但电力电子产品的增多必将在极大的程度上给电子电路造成某种威胁。针对这一问题的出现,相关人员若依旧采用传统的故障诊断技术对其进行检查的话,不但不能对电子电路故障进行有效的检测,而且在精确性,以及全面性上都会存在一定的误差。对此,为了顺应现如今我国时代的发展,以及对电子电路故障进行有效的检测,电力电子电路智能故障诊断技术逐渐出现在了如今的电力企业当中,电力电子电路智能故障诊断技术的应用不仅能在极大的程度上提升电力电子产品的质量,而且能更好的满足如今的社会需求。针对电力电子电路智能故障诊断技术,本文将通过智能诊断的方法与具体的应用这两个方面对其进行相关的阐述。

1.电力电子电路智能故障诊断技术的方法

针对电力电子电路智能故障诊断技术来看,电力电子电路智能故障诊断技术的方法主要可分为三个。一是,频谱分析法。频谱分析法主要指的是一种将复噪声号分解为较简单信号的技术。这种方法在诊断电路故障时有着很大的优势,其重要可体现在,该方法能将电子电路当中的许多复杂的问题简单化,这样操作人员在对故障进行检修的时候,不仅能省下许多的时间,而且可在极大的程度上减少工作量,正是因为该方法的这一优势,所以,频谱分析法是目前智能故障诊断技术中最常见,运用最广泛的一种诊断方法,但该方法却存在着一定的缺点,其主要就是该方法不能用于一些电子电路故障特殊的情况当中。二是,专家系统诊断法,所谓专家系统诊断法,其主要指的是,利用计算机的所拥有的智能技术,通过系统中丰富的专家经验对电子电路中出现的故障进行诊断。该方法的优势主要可体现在三点,其分别是智能化、系统化,且能在最大的程度上实现知识的融合。该诊断方法的缺点主要体现在,在诊断的过程中国失误率普遍偏高,以及应用度偏低。三是,小波分析法,小波分析方主要指的是,通过伸缩平移运算对信号逐步进行多尺度细化,进而对故障部分进行有效的分析。由于小波分析法在对电子电路故障进行诊断的时候,能够十分准确的排除故障,且拥有着实用性强。分辨率高等特点,所以,小波分析法也是目前我国常用的电力电路故障排除方法。此外,为了在极大的程度上避免出现诊断失误的现象,以及提高其诊断的效率,相关工作人员在使用小波分析方的时候可结合主成分分析等多种方法进行。以上就是目前电力电子电路智能故障诊断技术常见的几种方法,在使用的过程中相关人员需要对其加以重视,进而根据实际的情况采取相应的诊断方法进行。

2.电力电子电路智能故障诊断技术的应用

针对电力电子电力智能故障诊断技术的应用,本文將通过以下几个方面对其进行相关的阐述。一是,信息库的建立。由于电力电子电路智能诊断技术对信息数据库的建立有着十分重要的推动作用,所以,将电力电子电路智能故障诊断技术运用在信息库的建设上,不但可提高信息数据库的完整性,以及故障诊断的效率,而且可对电路的数据运行状况进行有效的评价,进而使之在最短的时间内找出故障点。二是,能够模拟出准确的电路运行环境。我随着我国经济的不断发展,我国的信息技术随之也在极大的程度上得到了提升,信息技术的进一步提升则使得目前我国电力电子电路诊断技术得到了进一步的发展,此外,目前的电力电子电路智能故障诊断技术已经可以通过模拟电路的运行状况对电路运行的环境进行分析与检测,总之,电力电子电路智能故障诊断技术的运用不但可以对故障进行预防,而且可降低故障的发生率。

结束语:总而言之,随着我国经济的不断发展,电力电子电路智能故障诊断技术随之出现在了人们的生活当中,并得到了人们的青睐。电力电子电路智能故障诊断技术的运用不但可在极大的程度上提升电子产品的质量,而且可让电力企业经济效益得到最大化的同时,在今后得到更好的发展。

参考文献:

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