高速逻辑分析仪探测
2004-06-28 09:28:28
电子设计应用
2004年10期
在过去几十年中，数字设计人员一直把逻辑分析仪作为系统检验的主要工具。近年来，随着时钟速率的加快，迫使设计人员不得不考虑系统所有部分的信号完整性，包括测试能力。逻辑分析仪探头已不再象以往那样任意连接到系统上，就能够保证成功，而是必须考察探头位置、负荷及与传输线的邻近程度等因素。本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题和探头的负荷模型以及探测位置的影响。最后，本文还讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术：短线探测和阻尼电阻器探测。
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