磺隆类除草剂的飞行时间二次离子质谱研究

陆大荣,梁汉东,王凯旋,盛守祥

(中国矿业大学,煤炭资源与安全开采国家重点实验室,北京 100083)

磺隆类除草剂的飞行时间二次离子质谱研究

陆大荣,梁汉东,王凯旋,盛守祥

(中国矿业大学,煤炭资源与安全开采国家重点实验室,北京 100083)

采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析6种磺隆类除草剂,获得了它们的正离子和负离子谱图。数据显示,这类除草剂在 TOF-SIMS谱图中均出现准分子离子峰和特征碎片离子峰。裂分机理讨论进一步表明,这类除草剂的典型碎片化发生在化合物结构中酰胺基团的C-N键之间,可获得较大质量片段的碎片化离子以及准分子离子的主要原因是其芳香结构的稳定化作用。结果表明,尽管 TOF-SIMS由于其特殊电离方式通常容易导致一般有机分子的高度碎片化,但还是有望用于磺隆类除草剂及其衍生物或降解物的定性检测。

磺隆类除草剂;飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS);裂分规律

目前,磺隆类除草剂已被广泛用于防除稻田、大豆田、玉米田、麦类作物田、油菜田等耕地杂草及草坪等非耕地杂草。其分子结构主要由芳香基、磺酰脲桥和杂环3个单元构成,各单元上取代基的微小变化会导致生物活性和选择性的极大变化,以适用于不同农田[1-4]。然而,像使用其他类型的农药一样,磺隆类除草剂的使用可能会带来农药残留等环境问题,因此,有必要研究对其有效的检测方法。由于磺隆类化合物的热不稳定性、化学不稳定性以及与此相关的可能的低残留水平[5-7],则要发展高灵敏度的检测方法。……