边界扫描技术在含DSP电路板测试与诊断的研究与应用

王启宁，李永红

（中北大学 信息与通信工程学院 , 山西 太原 030051）

0 引言

在现代雷达系统中，含DSP电路板应用很广，含DSP电路板通常是以某种DSP芯片为核心，外围配以双口RAM（DRAM）和闪存（Flash）等器件。DSP芯片大多支持IEEE1149.1标准，并且在电路板中形成了边界扫描链，支持边界扫描；电路板中的DRAM等非边界扫描器件，位于电路板中各DSP芯片之间，测试与诊断较难进行。本文采用边界扫描技术与传统的外部输入矢量测试方法相结合，为含DSP电路板的测试与诊断提供了可以借鉴的方法。

1 电路原理简介及总体测试思想

1.1 电路原理介绍

本文以雷达系统中某含DSP电路板为例对测试方法进行介绍，该电路以AD公司的ADSP-21160M为核心，外加DRAM、Flash、信号匹配转换器组成，Flash为DSP工作提供配置程序，4个DSP之间通过Link口进行数据交换，同时DSP的部分数据线和地址线与DRAM的数据线和地址线相连， DSP的Link口通过信号匹配转换器与外部连接器进行数据交换。电路板原理框图如图1所示。

该电路板在电路器件构成上使用了集成度较高的器件，芯片封装采用了PQFP132、PLCC100等多种表贴器件，器件引脚间距极小，采用探笔测试可能破坏电路工艺；并且电路上的DSP芯片不能从电路板上取下，所以采用边界扫描技术较为合理。

图1 某含DSP电路板原理框图

1.2 测试与诊断分析

对电路中核心器件DSP的资料分析，芯片具有JTAG测试接口，具备边界扫描测试的条件。但边界扫描测试不是基于IP内核的测试，使用边界扫描技术可以对电路测试但无法达到全面的测试与诊断，所以可以利用与传统的外部输入矢量测试方法相结合的方式实现电路的互连以及器件功能的测试，达到故障定位的目的。……