新生儿血清中c-fos、c-jun表达水平与新生儿缺氧缺血性脑病的关系

姜秀文,蔡尚霞,齐 玲,严 海

(1.吉林市妇产医院,吉林 吉林市 132011;2.吉化集团公司总医院;3.吉林医药学院）

新生儿缺氧缺血性脑病(Hypoxic ischemic encephalopathy,HIE）是指由于围生期因素引起的缺氧和脑血流减少或暂停而导致胎儿和新生儿的脑损伤,它是引起胎儿和新生儿发生急性死亡的主要原因之一,也是引起新生儿发生慢性神经系统损伤的主要原因之一[1]。c-fos、c-jun作为即早基因(immmediately early genes,IEGS）在神经元程序性凋亡中的作用受到重视。研究表明,外界刺激,如脑缺血都可诱导中枢神经元中c-fos基因表达[2]。本实验通过测定患儿血清中c-fos、c-jun水平,探讨HIE与c-fos、c-jun之间的关系。

1 资料与方法

1.1 研究对象2009年10月-2010年10月间,吉林市妇产医院新生儿科收治的47例HIE患儿为研究对象;轻度HIE 25例,中度 12例,重度 10例。对照组为妇产医院及吉化集团公司总医院妇产科同期分娩的正常足月顺产健康新生儿,共25例,胎龄37 3/7周至42周,自出生至生后7天无合并症。

1.2 方法[3]用酶联免疫吸附(ELISA）法测定患儿血清中c-fos、c-jun水平。

1.3 统计学分析实验数据均采用均数加减标准差(¯x±s）表示,组间比较采用t检验。

2 结果

与正常对照组相比,轻、中、重度HIE患儿血清c-fos值均明显升高,统计学有显著性差异(P＜0.01）;与正常对照组相比,轻度HIE患儿血清c-jun值无变化,中、重度HIE患儿血清c-jun值表达明显增高,统计学具有显著性差异(P＜0.01）(见表1）。

3 讨论

HIE是导致儿童神经系统伤残的常见原因之一。统计数据表明,在围生期出现的窒息有15%-20%将发生HIE,中、重度HIE幸存者中则有25%将出现永久性的神经功能障碍[4]。近年来,对其发病机理的研究不断深入,但尚未完全阐明。……