崔晓英
(中兴通讯股份有限公司,广东 深圳 51805)
键合线焊接点的电阻以及它在芯片和晶片中所占用的空间,焊接所需要的间隙,单位体积导电率,以及化学性能、抗腐蚀性能等特性必须满足一定的要求才能得到良好的键合特性。在元素周期表的过渡金属元素中,银、铜、金和铝等4种金属元素具有较高的导电性能,同时兼有上述性能,常用作集成电路的键合线。
近几年芯片密度更高,功能更复杂,价格更低廉,功耗更低,这都使得封装向着细间距、多引脚、小焊盘和小键合点的方向发展,因此越来越多的厂家进行了金线改铜线的PCN变更,这也是因为铜作为键合线比金、铝有更多的优良特性。
金比铜贵3~10倍,最初用铜线键合铝金属化层是在十多年前,近年来黄金价格不断攀升,现在已经达到$1400/盎司 (盎司为欧美黄金计量单位,1盎司=31.1034768克),目前金线键合长度超过5 mm,引线数达到400以上,封装成本粗略估计已经超过0.40美元。对于1 mil焊线 (1 mil=0.0254 mm),成本可以降低75%,因此,用铜线代替金线可为封装公司节省不少的成本。近10年的黄金价格走势和Au线换Cu线的成本优势对比见图1、 2。

图1 近10年的黄金价格走势

图2 Au线换Cu线的成本优势对比
铜线具有优良的电性能,其电阻率较低,为1.6 μΩ/cm,铜和金的电阻率对比如图3所示。在承受相同的电流时,铜丝截面积比金丝小,这样在微间距封装中就可以采用更细的焊线。此外,铜丝的寄生电容比金丝小,由寄生电容引起的信号串扰也越小,信号在铜丝上传输的速度比在金丝上快,这对高速IC是非常有利的。……