测试点的优化选择

蒯 伟

（海军驻南京地区通信军事代表室 江苏南京 210002）

0 引言

科学技术的进步，特别是计算机技术和大规模集成电路的广泛应用，在改善和提高系统、武器装备性能的同时，也大大增加了系统的复杂性。测试时间长[1]、故障诊断困难和使用保障费用高等问题，从而引起了人们的高度重视。为了提高武器战斗力，保证其可靠的运行和良好的作战状态，必须对其进行高效快速的测试诊断。

测试点的优化选择是系统测试性设计的重要内容，可以及时、快速地检测与隔离故障，提高执行任务的可靠性与安全性[2]，缩短故障检测与隔离时间，进而减少维修时间，提高系统可用性，降低系统使用保障费用。

1 测试点优选的步骤

对电子武器装备的多信号模型的测试点的优选方法是利用搜索算法得到最优的故障诊断树[3]，其步骤如下：

1） 初选测试点：分析组成单元的测试信号特点、测试内容和测试方法等，在被测单元各组成[4]单元端设置故障测试点，将初选的测试点添加到多信号模型。

2） 搜索算法的测试序列优选，对建立的多信号模型[5]进行计算，得到被测单元最优序列和诊断方案。

3） 测试点优化：根据得到的最优测试序列，确定故障检测、隔离用的测试点和测试顺序[6]，在初选测试点基础上除去冗余的测试点，根据实际要求减少对测试性指标贡献较小的测试点。

电子武器装备测试点的优化选择是极为重要的，其设置适当与否直接关系到该武器装备[7]的被测单元的测试性水平、诊断测试时间和费用。……