李 霖,周庆奎,宫 晨
(中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京 100176)
接触接近式光刻设备主要用于功率电子器件、传感器、光电子器件、微波电路、MEMS(微电子机械系统)及其它新型电子元器件的单、双面对准及曝光工艺,有着较大的市场影响力。各半导体厂商的产品不同,相对应的曝光工艺也有所不同,包括光强、曝光时间及曝光方式等。
在曝光工艺过程中,要根据不同的产品选择适合的曝光方式。综合国内外接触接近式曝光机的情况,虽然曝光方式的名称略有不同,但其实际定义的概念基本相同。从目前国内外接触接近式曝光机的曝光方式来看,主要可分为:真空接触曝光、硬接触曝光、软接触曝光、接近式曝光。
真空接触曝光:在基片与掩模版完成找平、对准后,让二者接触,用密封件将二者完全密封形成一个腔体,并在此密封腔体中通真空负压,增大基片与掩模版的接触力,然后进行曝光。此种曝光方式适用于对曝光线条质量要求较高、基片胶层较薄的情况,该方式下基片线条的曝光分辨率通常可达到0.5~1 μm以下。
硬接触曝光:在基片与掩模版完成找平、对准后,让二者接触,在基片底部均匀通入压缩气体(例如氮气)使基片与掩模版更紧密接触,然后再进行曝光。该曝光方式适用于对基片曝光线条质量要求较高的情况,基片线条的曝光分辨率通常可达到 0.8~1.5 μm。
软接触曝光:在基片与掩模版完成找平、对准后,让二者接触,此时既不通入真空也不在基片底部通入压缩气体,而是直接曝光。……