基于外部RAM的ARM异常程序调试技术

姚茂群，叶汉能，赵武锋，颜佳宁

（1.杭州师范大学钱江学院，浙江杭州310012；2.杭州师范大学信息科学与工程学院，浙江杭州310036；3.浙江大学信息与电子工程学系，浙江杭州310027；4.浙江医学高等专科学校图书信息中心，浙江杭州310053）

基于外部RAM的ARM异常程序调试技术

姚茂群1，2，叶汉能2，赵武锋3，颜佳宁4

（1.杭州师范大学钱江学院，浙江杭州310012；2.杭州师范大学信息科学与工程学院，浙江杭州310036；3.浙江大学信息与电子工程学系，浙江杭州310027；4.浙江医学高等专科学校图书信息中心，浙江杭州310053）

在阐述ARM中异常处理的基本思想以及基于JTAG进行调试的基本原理的基础上，详细分析了目前各种基于外部RAM的ARM异常程序调试技术的原理和特点.通过对比各种调试技术的适用性和优缺点，结合目前嵌入式系统开发过程中常用的ARM芯片和集成开发工具，提出一种新的在外部RAM中调试含有异常处理代码的ARM程序的调试技术，并通过实验验证了其有效性.

异常处理；JTAG协议；外部RAM；ARM体系结构；调试技术；嵌入式系统

嵌入式系统的开发一般可分为需求分析、设计、生成代码和固化几个阶段［1］.在生成代码的过程中，调试是确保程序最终能在系统中顺利运作的关键.由于RAM（Random Access Memory）具有可读写、速度快等特点，因此在RAM中调试程序是一种基本并有效的方法.ARM（Advanced RISC Machines）处理器作为嵌入式领域中运用最多的处理器之一，占据了32位RISC（Reduced Instruction Set Computer）微处理器75%以上的市场份额，它的应用深入到了各个领域［2］.很多ARM集成开发工具在RAM中调试程序时，可以方便地……