一种集成电路测试用程控信号源的设计

王 鑫， 李力军

（北京自动测试技术研究所，100088）

0 引言

随着电路设计的不断发展，集成电路测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用，而且可以降低电路与系统的制造成本。这就对集成电路测试系统的功能和技术指标提出了更高的要求。

在以往的测试中，一般只关心器件的直流参数，对于交流参数不进行测试。但随着电路集成度的提高，运行速度的加快，系统整机对于芯片在动态条件下的运行也提出了更高的要求。这就要求芯片在生产时对于交流参数进行测试。

近些年来，基于DDS技术的信号发生器在正弦信号中的应用变得日益广泛。与以往的射频信号源、锁相信号源和模拟频率合成信号源相比较，它频率分辨率高，范围宽。并且其体积小、功耗低、而且易于程序控制。目前在工程应用领域采用DDS技术的信号源大多集中在高频，低压小信号方面。所以将DDS技术应用于自动测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)领域具有较大的理论意义和工程价值。

1 信号源的设计与实现

本文研究内容主要是为了对自主研发的国产模拟集成电路测试系统进行完善。信号源将按照IC芯片手册中各种交流参数的测试条件对芯片施加激励信号，模拟芯片在实际使用中的环境，对芯片进行测试，从而保证芯片的品质达到规定要求，保证整机设备运行的稳定与安全，并为维修提供依据，信号源的功能要求与技术指标如下：

（1）输出……