IR推出坚固耐用的600V IR25750 SOT-23电流检测IC提升整体系统效率并大幅节省空间

2014-03-25 17:19:41
电子设计工程 2014年7期
关键词:效率检测

IR推出坚固耐用的600V IR25750 SOT-23电流检测IC提升整体系统效率并大幅节省空间

全球功率半导体和管理方案领导厂商—国际整流器公司 (International Rectifier,简称IR) 推出坚固耐用的IR25750通用电流检测IC,配有极纤巧的SOT23-5L封装,为大电流应用提升整体系统效率并且大幅节省空间。

测量通过功率MOSFET或IGBT的大电流 (10到100 A) 往往需要大的电阻器,因此会产生过量的功率损耗 (10到30 W)。IR25750可在开关导通时从功率MOSFET的内部导通电阻或IGBT的VCE(on) 提取电压,无需大型外部电流检测电阻器和散热片,还能避免过量的功率损耗。

IR25750的栅极驱动输入为IC提供VCC电源电压,并把导通电阻或VCE(on) 检测电路和MOSFET或IGBT的开关时间进行同步。新器件采用IR的专利高压技术,具有在开关关断时阻断高VDS或VCE电压所需的600V阻断能力。其它主要功能包括低栅极输入电容、导通时的内部滤波延迟 (一般为200纳秒) 以及GATE和CS引脚上的内部20.8V齐纳箝位 (Zener clamp)。

IR25750在所有输入和输出上均具有集成式防静电能力和卓越的闩锁免疫力,实现无坚不摧的单芯片保护。该器件符合工业级标准和第一级潮湿敏感度 (MSL1) 标准。

咨询编号:2014071007


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