ICP-AES中多重谱线拟合(MSF)扣除光谱干扰法在Th、U测定中的应用

罗 艳，丛海霞，赵中奇，胡伟青，周 伟，何淑华

中国科学院 上海应用物理研究所，上海 201800

ICP-AES中多重谱线拟合(MSF)扣除光谱干扰法在Th、U测定中的应用

罗 艳，丛海霞，赵中奇，胡伟青，周 伟*，何淑华

中国科学院 上海应用物理研究所，上海 201800

多元光谱拟合(MSF)校正法是一种新的校正多种基体干扰的方法。本工作采用 MSF法，有效地校正了大量U基体对微量Th的干扰及大量Th基体对微量U的光谱干扰。对ρ(U)/ρ(Th)=200∶0.1～200∶1.0和ρ(Th)/ρ(U)=200∶0.1～200∶1.0的模拟样品进行测定，在Th波长401.913nm下，200mg/L U中0.1～1.0mg/L Th测定的测量误差为0.33%～4.13%，在U波长409.014nm下，200mg/L Th中0.1～1.0mg/L U测定的测量误差为4%～10%，得到较为满意的测定结果。

ICP-AES；基体效应；多元光谱拟合；Th；U

在钍铀燃料循环的后处理流程的研究中，经常会分析大量Th中的U，以及大量U中的Th，Th和U的谱线都比较复杂，采用原子发射光谱法将产生严重的光谱干扰[1-3]。因此，必须预先将样品进行分离纯化，消除Th、U的干扰。

多元光谱拟合(MSF)校正法是一种用于校正光谱干扰的有效方法。MSF 校正法是一种多变量方法，在多个波长记录信号响应值，利用多元线性回归和最小二乘法进行数学处理，从而区分出分析信号、干扰信号以及背景值，有效地用于电感耦合等离子体(ICP)的光谱信息校正光谱干扰，改善方法精密度和检出限[4]。

Ivaldi等[5]用MSF 法测定了钨钼基体中的In，对24个元素的研究表明，MSF 法得到的检出限比峰高法改善了2～5倍。陈维青等[6]用多重谱线拟合(MSF)扣除光谱干扰法测定钢铁中磷，每1个钢铁标样溶液重复10次，存在严重光谱干扰的P 213nm 谱线采用MSF校正后测定精密度和检出限最好，比不存在光谱干扰的常用P 178nm谱线精密度高5倍，相对标准偏差(sr)在2%以内，检出限也比常用 P 178nm 谱线的小10倍。……