基于PLC间接寻址的变频器老化测试系统设计

张进峰 ，颜友钧

(苏州市职业大学 电子信息工程学院，江苏 苏州 215104)

基于PLC间接寻址的变频器老化测试系统设计

张进峰 ，颜友钧

(苏州市职业大学 电子信息工程学院，江苏 苏州 215104)

针对变频器批量组装完成后对其运行稳定性能测试的要求，设计一种基于S7-200 PLC控制的变频器老化测试电气控制系统，提出一种多工位测试多种型号、基于间接寻址的模块化编程方法，结合模块化硬件设计实现变频器的老化测试系统.该测试系统的软件结构性强，可靠性高，硬件运行稳定，易于设备维护更新．实际使用表明其在工业应用中具有较高的实用价值.

可编程序控制器；变频器老化测试系统；间接寻址；模块化设计

变频器因为变频调速具有很多优良的性能，所以在现代化工业中的应用越来越广泛.无论是国外的知名品牌在国内生产组装，还是国产的优秀品牌在变频器组装测试完成后，都必须对产品进行较长时间带负载在不同工作温度下老化测试，测试其稳定性，这是变频器生产不可缺少的环节之一[1].传统的PLC编程方法往往受限于电气控制设计思想，很难满足日益发展的控制系统的要求.变频器老化测试系统要求测试系统具备多种型号兼容、多工位同时测试的能力，采用基于PLC间接寻址算法的老化控制系统是一种可靠、高效的老化测试方法[2-3].本测试系统采用了基于西门子S7-200系列PLC实现模块化控制多工位多种类变频器的性能老化测试.

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