李 杰,杨晓东,冒立军,杨建成,原有进,夏佳文,晏太来,马晓明,石 健,柴伟平,殷达钰,申国栋,汶伟强
(中国科学院 近代物理研究所,甘肃 兰州 730000)
电子冷却作为质子和离子储存环中常用到的主要束流冷却方法之一,在中低能区能有效降低环内储存离子束的能散及横向发射度,从而提高存储束的相空间密度。电子冷却原理是在储存环的直线段引入低温高流强电子束,在电子束与离子束平均速度相同及共轴情况下,通过多次库仑碰撞进行热交换,在二者达到热平衡后,离子束能散和横向发射度通常能降低1个数量级。此外,参与热平衡作用的主要因素还有束内散射、残余气体散射和碰撞离化、电子离子复合等,这些因素共同决定了离子束在环内储存时所能达到的最低能散、横向相空间密度以及环内储存束的流强大小。
残余气体主要通过碰撞离化改变储存离子的电荷态,从而影响束流的存储寿命。因此,对于裸离子,束流在冷却储存环内的存储寿命主要取决于其俘获外界电子的概率。而对于非全裸离子,这两种作用均会对束流的存储寿命产生影响,并且残余气体的碰撞离化作用在一定条件下占主导地位。
122 MeV/u的12C3+离子束因特殊的能级结构而在储存环中能通过激光束进行深入冷却[1],但激光冷却需以电子冷却对12C3+离子束进行预冷却为前提。电子冷却实验调试发现,122 MeV/u的12C3+离子束在兰州重离子加速器(HIRFL)实验环(CSRe)中的储存寿命远低于预期,这限制了电子冷却作用和后续实验的开展。……