12C3+离子束在HIRFL-CSRe上的初步电子冷却调试

2015-03-20 08:18:46杨晓东冒立军杨建成原有进夏佳文晏太来马晓明柴伟平殷达钰申国栋汶伟强
原子能科学技术 2015年2期
关键词:实验

李 杰,杨晓东,冒立军,杨建成,原有进,夏佳文,晏太来,马晓明,石 健,柴伟平,殷达钰,申国栋,汶伟强

(中国科学院 近代物理研究所,甘肃 兰州 730000)

电子冷却作为质子和离子储存环中常用到的主要束流冷却方法之一,在中低能区能有效降低环内储存离子束的能散及横向发射度,从而提高存储束的相空间密度。电子冷却原理是在储存环的直线段引入低温高流强电子束,在电子束与离子束平均速度相同及共轴情况下,通过多次库仑碰撞进行热交换,在二者达到热平衡后,离子束能散和横向发射度通常能降低1个数量级。此外,参与热平衡作用的主要因素还有束内散射、残余气体散射和碰撞离化、电子离子复合等,这些因素共同决定了离子束在环内储存时所能达到的最低能散、横向相空间密度以及环内储存束的流强大小。

残余气体主要通过碰撞离化改变储存离子的电荷态,从而影响束流的存储寿命。因此,对于裸离子,束流在冷却储存环内的存储寿命主要取决于其俘获外界电子的概率。而对于非全裸离子,这两种作用均会对束流的存储寿命产生影响,并且残余气体的碰撞离化作用在一定条件下占主导地位。

122 MeV/u的12C3+离子束因特殊的能级结构而在储存环中能通过激光束进行深入冷却[1],但激光冷却需以电子冷却对12C3+离子束进行预冷却为前提。电子冷却实验调试发现,122 MeV/u的12C3+离子束在兰州重离子加速器(HIRFL)实验环(CSRe)中的储存寿命远低于预期,这限制了电子冷却作用和后续实验的开展。……

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