Xe26 +入射Au 靶离子L 壳层空穴的产生与退激辐射

李耀宗，张小安，，马 晴，马峰全，梁昌慧，赵永涛

(1. 咸阳师范学院与中国科学院近代物理研究所联合共建:离子束与光物理实验室，咸阳712000;2. 中国科学院近代物理研究所，兰州730000)

1 引 言

离子入射固体靶发射X 射线研究是碰撞物理的重要研究课题，其对物理学基础理论研究和高温等离子体诊断、X 射线激光、离子注入材料改性、重离子聚束核聚变等相关应用研究都有重要意义. 近年来，这方面的研究受到国内外学者的广泛关注，取得了大量研究成果［1-7］. MeV 量级动能的重离子入射重元素靶激发X 射线是该类研究中较复杂的一种情况. 与轻离子(如H+、He2+等)与靶原子碰撞过程，原子内壳层空穴主要由离子核直接库仑电离产生，且往往只发生内壳层电子的单电离情形不同，重离子(如Arq+、Xeq+、Euq+等)与重元素原子碰撞过程，不仅可导致靶原子产生内壳层空穴，也可使本无内壳层空穴的离子产生相应空穴，而且产生的空穴多，其空穴的退激辐射过程比单空穴复杂［2，3］. 原子或离子多空穴退激辐射的X 射线谱会出现许多复杂的伴线，射线峰发生能移与增宽效应，空穴的跃迁几率与荧光产额也会发生变化，进而导致射线产额与分支比的变化［5-6］. 目前这方面的研究大多针对靶原子开展. 而当重离子与原子特征射线能间距较大时，作用过程可同时获得原子与离子的内壳层X 射线，通过对离子内壳层X 射线的分析，可研究离子与靶原子碰撞过程的再激发与退激辐射的规律.

在……