泰克示波器的特性阻抗测试系统性能分析

2015-11-12 06:23陈韵羽
科技传播 2015年18期
关键词:特性阻抗量具示波器

陈韵羽

四川建筑职业技术学院,四川德阳 618000

泰克示波器的特性阻抗测试系统性能分析

陈韵羽

四川建筑职业技术学院,四川德阳 618000

对于PCB生产,传输线特性阻抗测量十分重要。阻抗测量系统性能好坏直接影响测量结果的好坏。论文使用测量系统分析方法中的方差分析法,根据GRR%、P/T%值、可区分类别数(ndc)以及量具R&R图综合评价系统好坏。据分析,测量系统稳定,重复性和再现性好,测量系统变异较小。

特性阻抗;测量系统分析;重复性;再现性

随着电子产品的迅速发展,电子产品设计系统的主频越来越高,渐精细的工艺技术使得晶体管尺寸越来越小,因而器件的信号跳变沿也就越来越快,传输线的反射、时延、振铃都会造成信号间串扰[1],从而更加严重地破坏高速数字电路系统信号的完整性。因此,电路板生产完成后,需要测量电路板传输线阻抗值,判定其是否符合相关规定,以满足实际的生产需要。

为了获得更加可靠的阻抗值,需要对阻抗测量系统性能进行评估[2]。通常情况下使用过程控制的方法分析影响产品质量的偶然因素,但是如果所用测量系统本身产生的误差过大时,将会掩盖过程控制时因偶然因素造成的误差。为了避免造成上述情况发生,则需要对测量系统进行评价,使用测量系统分析(MSA Measurement System Analysis)方法进行评估[3]。本文仅对特性阻抗测量系统的重复性和再现性进行评价。

1 数据测量要求

1.1仪器校准

在使用DSA8200示波器时,需要注意静电保护,仪器开启30min以后再进行测量。当仪器内部温度异常时,需要进行校准,该校准过程需要几分钟才能完成。直到仪器显示温度标示为绿色为止。

1.2数据采集

探针和待测试样条的连接处由于阻抗不连续,将会产生波动,波形过渡不平稳。调整水平值,使整个试样条的测量值铺满整个水平面,取波形中50%-70%(两条绿线之间的范围)获得试样条的平均阻抗值。

2 测量具体步骤

取12个试样条,分成两组进行测量:第一组均为50Ω试样条6个,样品编号1~6;第二组50Ω、75Ω、100Ω各两个,样品编号1~6。3个测量员A、B、C,分别对两组试样条重复测量3次,测量不分先后顺序,随机抽取,直到全部测量结束,3个测量员均不知道彼此的测量结果。

3 系统性能分析

测量系统分析中,通常使用的是量具的重复性和再现性(Gauge R&R,Gauge Repeatability and Reproducibility)评判系统性能的好坏[4]。对测量数据进行分析的方法通常有两种:均值-极差法和方差分析法。两种方法相比之下,方差分析法较优,能更准确地评估变差,可从实验数据中得到更多的信息,使用于任何实验。因此,本文采用方差分析法分析测量数据。

3.1系统性能评价指标

在IPC-TM-650中Measurement Precise Estimation Variables Data规定,若GRR%和P/T%处于10%-30%之间,测量系统可视情况接受,若均小于10%,测量系统状况良好。根据特性阻抗测量的具体测量而言,两项指标均小于30%便可接受。GRR%和P/T%计算公式如下所示

除了上述两个指标外,系统的可区分类别数ndc(the number of distinct categories)要大于等于5。ndc代表系统识别部件间差异的能力。

3.2测量数据分析结果

运用方差分析法,使用minitab软件分析数据,第一组测量50Ω试样条的量具R&R结果如表1和表2所示。R&R(方差分析)图如图1所示。

表1 第一组各分量方差及贡献率

过程公差=10

表2 第一组各分量标准差及个变异贡献率

可区分的类别数=9

第二组分别由50Ω、75Ω、100Ω试样条各取两个组成,经分析,其量具R&R结果如表3和表4所示。R&R(方差分析)图如图2所示。

表3 第二组各分量方差及贡献率

表4 第二组各分量标准差及个变异贡献率

可区分的类别数=481

从两组测量结果的极差控制图中可得,所有点均落在控制上下限之间,说明测量系统稳定,操作员使用量具的一致性很好。

4 总结

本文应用测量系统分析方法中的方差分析法,评价了基于泰克示波器的特性阻抗测试系统的性能。最终结果表明系统性能稳定,测量系统误差小,重复性和再现性等各个指标符合MSA的评价标准。同时测量的结果能够满足实际生产要求。

[1]戴文,王芳,刘燕竹.高速数字电路PCB设计中的阻抗控制[J].电子技术应用,2006(06).

[2]黄书伟,赵丹玲.PCB设计的阻抗控制与阻抗匹配[J].电子质量,2005(04).

[3]徐兰.测量系统误差分析研究[D].南京理工大学,2007.

[4]董祺.测量系统分析方法的研究及应用[D].西安电子科技大学,2011.

TN934

A

1674-6708(2015)147-0146-02

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