电路软差错率评估综述

电路软差错率评估综述

王真, 李舫, 卢芳芳

(上海电力学院 计算机科学与技术学院, 上海200090)

摘要:综述了近10年来软差错影响下的电路可靠性分析方法,主要从系统结构级、寄存器传输级、门级、电路级4个抽象层次进行了分析,在每个抽象层次上再依据方法属性进行了分类比较.结果表明,多数情况下,基于的抽象层次越高,时间开销越小而准确度越低;不同属性的方法中模型解析法更简易可行,而故障模拟方法更贴合实际.

关键词：可靠性分析; 电路级; 门级; 系统结构级

基金项目：上海电力学院人才启动

中图分类号：TP302.8;TN406文献标志码： A

SurveyonCircuitSoftErrorRateEvaluation

WANGZhen,LIFang,LUFangfang

(School of Computer Science and Technology, Shanghai University of Electric Power, Shanghai200090, China)

Abstract:A survey of reliability analysis methods on soft error of recent ten years is conducted,which is expected to be helpful to future research. During the comprehensive methods introduction,they are categorized into architecture-level,register-transfer-level (RTL),gate-level and circuit-level,and are compared according to method property in each level. In conclusion,it is found that in most cases,the higher the base abstract level is,the less the time overhead is and the lower accuracy is,and among methods with different property,the analytical method is maneuverable,while the fault simulation method is closer to actual issue.

Keywords:reliabilityanalysis;circuitlevel;gatelevel;architecturelevel

近年来,随着数字集成电路制造技术的迅速发展,人们加快了对电子科技的研究和开拓,同时越来越多的应用领域对超大规模集成电路(VeryLargeScaleIntegration,VLSI)的可靠性提出了更高的要求,如航天飞机飞行姿态控制系统、原子核反应堆控制系统、导弹防御系统、铁路运输信号控制系统及金融部门的监督系统等.VLSI的可靠性分析是高可靠设计的必备前提,其相对准确省时的可靠性评估技术可以有效指导电路设计,帮助设计者选择节省开销的高可靠性结构.

本文主要针对近年来软差错影响下的电路可靠性问题,从不同抽象层次进行全面的分析和总结.软差错影响的分析方法,从方法属性来分,一般包括基于模拟的故障注入方法、通过强辐射压力测试的实验分析方法和建立模型计算评估的解析方法;从分析过程基于的……