数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

于维佳　秦臻　潘羽

摘要：随着集成电路技术的飞速发展，集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前，数字集成电路系统成为研究的主流，并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言，数字集成电路系统的优化速度较快，尤其是在基本构成和测试技术方面，会依据实际的需求而进行优化处理，满足客观工作的需求。在构成方面，需满足各个领域的要求。在测试技术方面，则要完成本质上的进步，确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果，创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究，健全工作体系。

关键词：数字；集成电路；构成；系统；测试技术

高新技术的快速发展，带来的是产品质量的提升和成本的降低。对于现阶段的工作而言，测试的具体流程、测试的具体方法，都对产品的质量和成本产生了较大的影响。数字集成电路系统作为现阶段的主流系统，其基本的构成涉及功能的实现，其测试技术的进步涉及产品的质量和生产效率。为此，在分析数字集成电路系统的过程中，需要在不同的模块，投入相应的时间和精力，完成系统的阶段性进步。在此，本文主要对数字集成电路系统的基本构成与测试技术展开讨论。

1数字集成电路系统基本构成

数字集成电路系统在目前的应用是比较广泛的，其在很多方面都具有较大的积极作用。随着时间的推移，现有的数字集成电路系统，集合了过去的很多优点，在多方面均表现出了较大的积极作用。……