Χ射线荧光光谱法分析地质样品的应用技巧

贾宇晶

摘 要：Χ射线荧光光谱法是一种使用原级Χ射线光子和其他微观粒子激发待检测物质中的原子，使其产生荧光，以此对样品进行化学成分定性分析和定量研究的方法。目前，该方法已经成为一种常规且极其重要的方法，被广泛应用于诸多领域。基于此，主要探究了Χ射线荧光光谱法的应用原理及其在地质样品分析中的应用情况。

关键词：Χ射线荧光光谱法；地质样品；岩石；矿物

中图分类号：O657.34 文献标识码：A DOI：10.15913/j.cnki.kjycx.2016.04.124

由于Χ射线荧光光谱法操作简单，能够同时检测多种元素，且检出限计算简便，精密度和准确度较高，因此被广泛应用于地质科学研究中。作为地质样品检测中的一项基础工作，采矿和选矿的前期工作所用的数据都来源于这一检测结果。由于地质样品分析的项目较多，如果用化学分析法来检测样品，则存在的缺点较多，且检测的精确度不高，因此，需要应用Χ射线荧光光谱法检测。

1 检测条件的选择

Χ射线荧光光谱法可以同时检测地质样品中的多种元素，但每一种元素都有其对应的检测条件。在选择检测条件时，首先要考虑如何选择探测器。由于探测器必须与晶体一起使用，因此，应先加快对相关元素的探测速度，以此提高检测结果的分辨率、信噪比和高计数率等。可见，选取适宜的探测器能够提高检测结果的准确度。以V元素为例，在地质样品中，元素V和Ti是相互伴生的（通常，后者含量高于前者），并且VKα线和TiKβ线重叠非常严重。

2 相关技术在地质样品分析中的应用