史飞洲, 王彦春, 陈剑光
(1.中国地质大学(北京)地球物理与信息技术学院, 北京 100083;2.中石化地球物理公司云南分公司, 云南 昆明 650233)
碳酸盐岩地层中,常规测井资料计算的孔隙度常与试油结论不符,即孔隙度高的储层产量低,而孔隙度低的储层产量高。这是因为碳酸盐岩地层具有由基质孔隙和次生孔隙组成的双孔隙结构。因此,将基质孔隙与次生孔隙区分开,有利于储层有效孔隙度计算和储层有效性评价。但是,利用常规测井资料很难区分基质孔隙与次生孔隙。斯伦贝谢公司的Newberry等[1]将电成像测井资料转换为孔隙度谱,计算孔隙度谱的截止值,并计算次生孔隙度;Ramakrishnan等[2]也提出了计算孔隙度谱截止值的方法。中国对电成像测井孔隙度谱的研究以定性研究为主,有关孔隙度谱截止值计算方法的研究还比较少[3-9]。
本文利用高斯函数拟合法计算了电成像测井孔隙度谱的截止值,并将其同Newberry和Ramakrishnan的方法进行了对比,在此基础上,将3种方法应用到实际井中,尝试着分析了次生孔隙度大小与储层产能之间的关系。
孔隙度谱是孔隙度值的频率直方图。如图1所示,电成像测井仪所测量的是井壁的视电导率值,通过转换就能够获得井壁的视电阻率值,利用阿尔奇公式将井壁的视电阻率矩阵转换为井壁的孔隙度矩阵,对某一深度范围内的孔隙度值在不同的孔隙度值区间内进行数量统计,将统计的结果在坐标系内绘制成频率直方图,就得到了所谓的孔隙度谱。……