TD-LTE-Advanced终端测试仪频谱发射模板测试方法与实现

王先鹏， 陈　奇， 林艺辉

（1.中国电子科技集团公司第四十一研究所，　安徽　蚌埠　233010；2.电子信息测试技术安徽省重点实验室，　安徽　蚌埠　233010）



TD-LTE-Advanced终端测试仪频谱发射模板测试方法与实现

王先鹏1，2， 陈奇1，2， 林艺辉1，2

（1.中国电子科技集团公司第四十一研究所，安徽蚌埠233010；2.电子信息测试技术安徽省重点实验室，安徽蚌埠233010）

随着TD-LTE网络大规模的投入商用，其后续演进技术TD-LTE-Advanced受到越来越多的关注。由于载波聚合CA和UL-MIMO技术的引入使得对TD-LTE-Advanced终端信号分析成为了终端射频一致性测试的一个关键点。本文在分析了TD-LTE-Advanced终端频谱发射模板测量原理的基础上，提出了一种快速测量方法和硬件实现技术，并进行了实际测量实验。测量结果验证了所提方法的有效性。

TD-LTE-Advanced；频谱发射模板；载波聚合（CA）

一、引言

TD-LTE-Advanced技术已成为全球4G通信技术标准之一［1-2］。随着运营商对4G网络大规模的部署以及用户数量的大幅增加，4G网络在国内进入了飞速发展的阶段。在通信产业链中，终端和通信芯片的生产和测试推动通信技术的成熟和通信产业的发展，特别是TD-LTE和TD-LTE-Advanced终端测试已成为通信测试行业的一个热点，尤其在终端设备的研发和产线测试上。不同芯片和不同厂商生产的终端在性能方面也会表现不一致，从而影响了运营商对网络的优化定位以及终端和芯片自身的运行性能［3］。TD-LTE-Advanced终端测试包括三个方面：射频一致性测试、RRM资源一致性测试以及协议一致性测试。TD-LTE-Advanced技术作为TD-LTE技术的后续演进技术，在终端测试方面存在一定的继承性。……