电子/质子综合辐照带通滤光片的性能退化机理研究

张剑锋，郭　云，杨生胜（兰州空间技术物理研究所 .真空技术与物理重点实验室；.空间环境材料行为与评价技术重点实验室，兰州　730000）

电子/质子综合辐照带通滤光片的性能退化机理研究

张剑锋a，郭云b，杨生胜a
（兰州空间技术物理研究所 a.真空技术与物理重点实验室；b.空间环境材料行为与评价技术重点实验室，兰州730000）

随着航天器的寿命从5年增加到8年以上，光学薄膜在空间飞行中经受的带电粒子辐照时间更长，光学薄膜更容易受到损伤，因此对光学薄膜抗辐射性能要求也不断提高。开展了光学薄膜带通滤光片电子/质子综合辐照实验，研究电子/质子综合辐照作用下带通滤光片的性能退化规律，借助于XPS和AFM等表面分析技术对带通滤光片微观分析，研究带通滤光片在电子/质子综合辐照下的退化机理。为带通滤光片空间适应性研究提供基础，同时为带通滤光片工艺设计与可靠性提供技术支撑。

带通滤光片；电子/质子辐照；性能退化

0　引言

随着我国空间技术的不断发展，空间光学薄膜技术已经发展成为一项独特的光学薄膜应用技术，为空间探测、遥感等提供了技术基础。光学薄膜滤光片在成像光学系统中主要用于光谱选择、能量增强以及色差均衡等，广泛应用于各种空间相机、光谱仪、望远镜中。

随着高分辨对地观测卫星等低地球轨道航天器寿命从5年增加到8年以上，光学薄膜滤光片在空间飞行中要经受的带电粒子辐照影……