基于ARM技术的高分辨率显示屏光电自动测试平台设计

厦门南洋职业学院　聂素丽

基于ARM技术的高分辨率显示屏光电自动测试平台设计

厦门南洋职业学院聂素丽

本文介绍基于ARM技术实现高分辨率显示屏的光电自动测试，阐述了该系统的总体设计方案及实现流程。

MIPI；液晶显示；高分辨率

高分辨率显示光学自动测量平台从技术的发展看，系统测量平台及高分辨率显示技术是关键技术。光电测量平台已经在各个显示企业中引入；在光电显示行业方面，高分辨率是一个市场的趋势，因此如何正确自动的测量高分辨显示就成为了众多光电厂商积极竞争的领域。

1　系统整体方案设计

本设计以32位ARM处理器为核心，FPGA为显示驱动核心，FPGA的显示驱动画面要通过24BIT RGB转换为MIPI协议来驱动高分辨率显示屏。ARM产生控制信号，控制FPGA进行不同的画面切换，同时ARM可以通过光学测量设备采集到相关的光学数据。ARM通知FPGA切换到要测量的画面，而后通知光学设备进行光学采集；采集后的数据进行运算换成的dB值后与理论数据进行比较，超过一定的误差范围后进行报警显示。整体架构如图1所示：

图1　整体架构

2　实施方案

2.1ARM接口电路

采用STM32F207ZGT6为核心处理器，该处理器为ARM Cortex™-M4是32位MCU，带有FPU单元，有210 DMIPS，多达1MB FLASH/192+4KB RAM，USB OTG HS/FS，Ethernet，17个定时器，3个ADC，15个通讯接口，主频高达168MHz，用以满足需要有效且易于使用的控制和信号处理功能混合的数字信号控制市场。

2.2SDRAM接口电路设计

图2　SDRAM电路设计

采用3块SDRAM用于存放RGB格式图片，ARM与SDRAM互相交换信息实现图片的存储，电路设计如图2所示。

2.3RGB信号转……