光纤动态疲劳参数的两种测试方法及其差异分析

于丽君,胡 鹏,彭利红

(1.武汉邮电科学研究院,武汉 430074; 2.烽火通信科技股份有限公司,武汉 430074)

光纤动态疲劳参数的两种测试方法及其差异分析

于丽君1,胡 鹏2,彭利红2

(1.武汉邮电科学研究院,武汉 430074; 2.烽火通信科技股份有限公司,武汉 430074)

由光纤筛选实验寿命预期模型可知,影响光纤寿命的主要参数有威布尔指数m、应力腐蚀敏感性参数n和筛选应力与静态应力比值。文章重点讨论了轴向张力法和两点弯曲法对光纤寿命的重要评价指数动态疲劳参数Nd值的影响及判定。对两种测试方法测得的G.652D光纤的Nd值进行统计,对优缺点进行了分析。结果表明,轴向张力拉伸法可以很好地发现光纤强度问题,但实现过程中光纤容易打滑,而两点弯曲法则相反。在实际测试过程中应综合使用两种测试方法。

动态疲劳参数;光纤寿命;轴向张力法;两点弯曲法

0 引 言

动态疲劳参数Nd值关系到光纤的力学性能以及使用寿命,一直是业界关注的热点。光纤制造商对不同类型光纤(无涂覆或涂覆)的Nd进行测量,不仅对光纤用于苛刻环境有较大的参考价值,而且能减少成本更高的光缆相关试验次数。GR-20-CORE规定单模光纤的Nd＞18[1],而国家标准GB/T 9771.1规定Nd＞20。国际电工委员会的IEC 60973-2-50和ITU-T(国际电信联盟电信标准化部)并没有规定Nd值的规范[2]。本文统计了轴向张力拉伸法和两点弯曲法分别测得的G.652D光纤的Nd值,通过分析两种测试方法的优缺点,给出了实际测试Nd值的建议。

1 动态疲劳参数测试

目前,用于Nd值测试……