外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估

刘潇 David Gentle

(1.中国计量科学研究院(NIM), 北京 100029;2.National Physical Laboratory (NPL) Teddington TW11 0LW)



外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估

刘潇1David Gentle2

(1.中国计量科学研究院(NIM), 北京 100029;2.National Physical Laboratory (NPL) Teddington TW11 0LW)

介绍了外推法技术,在此基础上提出一种基于几何光学的吸波材料影响评估方法．该方法可以在数字滤波后有效模拟并引入反射信号,通过比较两次外推后的数据,得到对增益测量的影响评估结果．在中国计量科学研究院(National Institute of Metrology,NIM)的外推法装置中进行实验验证,结果表明:该方法可以有效模拟吸波材料的影响,并给出由吸波材料引入的增益测量不确定度分量．该方法目前已应用到NIM和英国国家物理研究院(National Physical Laboratory,NPL)的外推法测量结果评定中,不仅对于外推法,对于在暗室中进行的其他天线测量结果的评估也具有很好的参考价值.

外推法;天线增益;吸波材料反射率;不确定度评定

DOI 10.13443/j.cjors.2015112301

引 言

三天线外推法技术是一种在有限距离准确测量天线增益和极化特性的方法[1]．这种方法基于平面波散射矩阵理论[2],通过在不同位置测量一对收发天线之间的传输功率并利用数据外推技术,得到无限远处增益．外推法可以克服传统三天线法天线对间的互耦问题,是目前公认的测量无限远处天线增益最准确的方法．各国国家计量院在标准增益喇叭(Standard Gain Hom,SGH)天线的增益测量国际比对中采用外推法技术[3-4],理想情况下,增益的测量不确定度可以达到±0.04 dB,而其他天线测量技术的增益测量不确定度最好值仅为0.2 dB．这项技术可以为近场扫描等常用天……