孙凤娟,柳文,李铁成
(中国电子科技集团公司第二十二研究所,山东青岛266107)
电离层对短波测向系统的影响分析
孙凤娟,柳文,李铁成
(中国电子科技集团公司第二十二研究所,山东青岛266107)
目的研究电离层对短波测向系统的影响。方法从电离层传播介质入手,分析路径偏离效应和波干涉效应的形成机理及其对短波测向的影响。结果电离层系统倾斜引起的测向误差可借助电离层长期预测模型、短期预测算法或电离层实时探测数据对测向方位偏差进行补偿。行波扰动不可预测,只能依据行波扰动观测结果进行测向误差校正。波干涉误差可通过时间平滑进行抑制。结论提升现有短波测向系统测向性能的根本途径是为短波测向系统配备电离层探测设备,准确获取系统覆盖区内电离层状态信息,并进行传播效应补偿。
电离层;短波测向;路径偏离效应;波干涉效应;行波扰动;系统倾斜
短波测向系统借助电离层反射能够实现对远距离、大范围内短波辐射源的测向定位,是监测远距离干扰源的重要手段。然而,电离层具有随机时变、各向异性、色散、非均匀等复杂特性,是影响短波测向系统作战性能的关键因素。大量试验数据表明,中纬度地区,电离层倾斜和扰动会使测向误差增大1°~4°,最大可达到7°以上,大尺度行波扰动发生时甚至可引起高达十几度的测向误差。因此,深入分析电离层对短波测向精度的影响,探讨消减或补偿其影响的措施对提升短波测向系统作战性能具有明确的指导意义。……