基于PST的杂散光测试系统研究

吴琪，徐熙平，徐亮，陈君杰

（1.长春理工大学 光电工程学院，长春 130022；2.中国科学院西安光学精密机械研究所，西安 710119）

随着探测器的飞跃发展，人们对光学系统中探测器的要求度愈来愈高，同时杂散光对光学系统的影响也越来越显著。杂散光产生于漏光、透射光学表面的残余反射和镜筒内壁等非光学表面的残余反射［1］，及红外光学系统因系统自身热辐射产生的杂散光［2-4］。这些杂散光都会降低成像质量，同时降低探测器探测弱目标的能力［5-7］。因而有必要研究一种杂散光测试系统保障系统的工作。其中点光源透过率（PST）［8-10］测试系统就是经典测试系统之一。

首先对光束性能测试，将测试误差控制在7%以内，使光束性能满足测试系统的要求。采用大口径实验装置，进行可见光、红外光等五个波段的杂散光测试，满足大部分光源的测试波段。利用光电倍增管和锁相放大器等技术对暗信号进行提取，提高PST测试系统测试极限水平。通过对测试系统的测试值和标准值比较，合理分析测试系统存在的偏差因素，本文就可见光波段（0.75μm）进行分析说明。

1 基本原理

目前国际上较为通用的杂散光评价标准是点光源透过率法，即PST（Point Source Transmittance），它是一种科学的、可精准测量的、且能评价光学系统对杂散光抑制能力的测量方法。其定义为，光学系统视场外视场角为θ的点源目标的辐射，经光学系统后，在像面上产生的辐照度Ei()θ与其在光学系统入瞳处辐照度E0()θ的比值。即：

从而可得到被测相机在不同离轴角的PST值。……