高双折光子晶体光纤偏振拍长的测量

姜凌红

摘要：光子晶体光纤由于其灵活的包层结构，可获得比传统光纤更强的保偏特性，通过调节包层结构孔间距、空气孔直径，或引入椭圆孔都可以获得更高的双折射，从而实现高双折射光子晶体光纤。通过测试保偏光子晶体光纤的拍长来表征了高双折射光子晶体光纤的保偏特性，具有一定的参考意义。

关键词：光子晶体光纤;双折射;偏振拍长

中图分类号：TB文献标识码：Adoi：10.19311/j.cnki.1672-3198.2019.07.101

1光子晶体光纤的模型与测试装置

光子晶体光纤由于其灵活可调的结构，具有传统光纤无法比拟的传输特性。而高双折射光子晶体光纤的保偏特性相比传统保偏光纤，具有更高的高双折射和更稳定的偏振保持特性，在相干光纤通信系统、偏振相关器件以及偏振激光光源等方面具有广泛的应用。实验中我们选取武汉长飞光纤光缆有限公司提供的高双折射PCF样品作为研究对象，利用高倍显微镜可以清晰的得到光纤端面图如图1所示。

由于具体实验中双折射的测量相对较困难，一般通过测量偏振拍长来计算保偏光纤的模式双折射。如果入射线偏振光与保偏光纤的主轴一致，则线偏振光在保偏光纤传输过程中保持偏振态不变;当入射线偏振光与保偏光纤的主轴有一定的夹角，该入射线偏振光在保偏光纤的传输时其偏振态会发生周期性的改变。在光纤的输入端，保偏光纤中两个正交偏振模HEx11和HEy11相位相同。当光纤的纵向特性不变时，两种正交模式的以固定传播常数差Δβ沿光纤轴向传播。……