谢子锋, 张智慧, 李 赫, 郑 丹, 段 理
(1.长安大学材料科学与工程学院,西安 710064; 2.长安大学环境科学与工程学院,西安 710064)
自石墨烯从石墨中分离出来以后,二维材料由于其独特的光电性质,越来越受到人们的重视[1]. 但是本征石墨烯带隙为零,不具备半导体性质,这限制了其在纳电子学器件中的应用[2]. 作为替代方案,已经出现了其他二维材料的研究. 如二维硫族化合物,其带隙介于1-3 eV,这意味着可制造出较高开关比的器件[3, 4]. 黒磷,从块体到单层有0.3-2.0 eV的直接带隙以及较高的载流子迁移率,然而进一步研究发现,单层或几层BP在大气环境中不稳定,受空气中的水分和氧气的严重降解[5,6]. 具有类似石墨层状结构的六角氮化硼(h-BN),带隙理论计算值为4.8 eV左右,实验值为5.9 eV左右,是一种宽禁带半导体[7]. 直接的宽带隙可用于远紫外光发射,同时具有良好的化学稳定性和力学性能. 比起常用的SiO2表面,h-BN片是原子级的薄片且没有电荷杂质以及悬挂键,h-BN作为一种良好的电介质材料而受到人们亲睐[8].
最近Geim等人成功制备出只有几个原子厚度的二维硒化铟(InSe)材料,它拥有比石墨烯、黒磷及其他过渡金属二硫属元素更好的半导体属性[9]. InSe,六方晶系结构,每层都有一个蜂窝状晶格. 层与层之间通过范德华力连接起来,层间距约为0.8 nm. 超薄InSe电子迁移率高,室温下超过1000 cm2V-1s-1,远远超过了硅,液氮温度下载流子迁移率可以达到104cm2V-1s-1[10, 11]. 这些研究表明二维InSe在超快电子领域和光电子领域有很大的应用……