电磁兼容中的测试与处理的相关技术分析

黄臣君

摘 要：随着电气技术的飞速发展和电子设备的使用愈发频繁，进而就出现了各种电磁兼容问题，并迟迟得不到很好的解决，所以人们开始重视起了提高电子设备的电磁兼容性能和测试方法。电磁兼容技术主要包括了两个方面，一是电磁干扰技术，二是电磁抗干扰技术。在电磁干扰方面具有研究成本较高，且电磁干扰测量技术不够成熟等问题;在静电放电方面具有危害大，发生频繁，防护方法繁杂等问题，所以对于电磁兼容的研究和技术分析十分必要。本文就针对上述的问题展开研究，从电磁兼容中的干扰测量问题和电磁抗干扰中的静电放电问题着手，并给出理论分析和验证。

关键词：电磁兼容;GTEM小室;静电放电;测试与处理

1 电磁干扰测量问题分析

1.1 GTEM小室硬件结构设计

GTEM小室的外观被设计为一个四棱锥，从物理结构上可以将其分为多个部分，整体上涵盖了：四周的侧板和盖板、屏蔽门、吸波材料、导轨、馈源头、电源接口、终端截角以及各种屏蔽设计等。与此同时，GTEM小室还拥有一套滚轮支架，保障其可以实现在水平地面上自由移动，屏蔽门位于四周的侧板上，将内部转台安置在被测设备之中，吸波材料装在后侧板的内部，使用50欧姆的分布电阻将芯板和后侧板连接在一起，馈源头安置在室内顶端。GTEM小室的电压驻波比、屏性能等各项指标与其设计结构有着密不可分的关系。所以，在设计GTEM小室的时候，需要遵守一定的原则和要求，去确保GTEM小室对辐射干扰和各项机理诊断工作的要求。……