微观缺陷分析在金属材料失效质量原因调查中的应用

杨杰森 马途丽 蒋忠伦 陈娟

摘要：随着材料科学的发展和科学技术水平的进步，扫描电子显微镜（又称扫描电镜、英文缩写型SEM（SANNINGELECTRONMICROSCOPE））的性能及其在材料学中的应用范围有了很大提高。扫描电镜使用高能电子束扫描样品。电子束与样品物质的相互作用刺激了二次电子、后向散射电子等多种物理信息，从而观察和分析了样品表面或短球形态，目前在材料科学、冶金矿物、半导体&微电子、生命科学等领域，特别是材料学中，SEM被广泛应用于粉末和纤维、石墨陶瓷、金属材料、复合材料、纳米材料等研究。结合SEM和其他分析仪器，可以观察材料的微观形态、晶粒大小形状、元素定量和定性成分分析、材料断裂分析和失效分析功能。已经成为材料科学和质量管理中不可缺少的工具之一。

关键词：微观缺陷分析;金属材料失效;质量原因

引言

随着材料科学的不断发展和科学技术的进步，使用高能电子束扫描样品的扫描电子显微镜（称为扫描镜或SEM（scanningclomscopy））的性能和范围，通过各种物理信息，例如二次电子和电子束与样品材料相互作用产生的反向电子，对样品表面或形态进行观察和分析，已被广泛应用于材料科学、矿物等领域SEM与其他分析工具相结合，能够观察材料的微观形态，组织颗粒形状，对成分进行定量和定性分析，进行材料断裂分析和失效分析，已成为材料科学和质量控制的重要工具之一。

1实验材料及过程

1.1试验材料

以6110铝合金为研究对象，其化学……