G 652单模光纤谱衰减截断法影响因素的研究

张作通 潘辰裕 杨亚军

（江苏永鼎光纤科技有限公司，江苏 苏州 215211）

0 引言

随着光纤技术的不断发展，光纤产品已经成为高竞争力的产品之一，通信线缆市场逐渐被光纤光缆取代，产业发展前景良好。随着通信产业的不断发展，人们对光纤产品的衰减特性提出了更高的要求，因此，我们必须掌握正确的测量方法以得到准确值。为了更准确有效地得到测量值，该文就影响检测值的相关因素做了实验，对GB/T 15972.40—2008 中方法A-用截断法测量衰减的特定要求进行研究，对该方法的具体实施过程进行阐述，并对其准确性及先决条件进行了分析，分析结果表明在消除相关影响因素的条件下可以准确有效地得到测试值，提高测量精度、减少测量误差。

1 衰减特性的测量方法

光纤衰减是指光纤传播时的光功率减小程度的一种度量，它取决于光纤的性质和长度，并受测量条件的影响。测量光纤衰减特性的方法包括截断法、插入法、后向散射法以及谱衰减模型法。截断法、插入法以及后向散射法适用于所有的A 类多模光纤和B 类单模光纤的衰减测量，后向散射法还可以用作光纤长度、损耗和不连续点特性的测量。谱衰减模型法仅适用于B 类光纤的测量。

1.1 截断法

截断法是衰减测量的基准方法，使用的单色仪能够测量700 nm～1 725 nm 衰减谱，覆盖石英光纤的完整波段。插入法与后向散射法使用的是单一波长光源，无法实现衰减谱的测量，但是可以通过使用后向散射法（光时域反射仪（OTDR））测量得到所需波长（3～5 个波长）的衰减后，将其带入预先建立的谱衰减模型，从而计算出其他波长的衰减。……