SF6气体绝缘电气设备故障分解物检测的多组分交叉干扰及校正算法综述

陈图南，马凤翔，袁小芳，邱宗甲，李 康，韩 冬，张国强

(1. 中国科学院电工研究所，北京100190； 2. 中国科学院大学，北京 100049；3. 国家电网安徽省电力有限公司电力科学研究院，安徽 合肥 230601)

1 引言

六氟化硫(SF6)具有良好的绝缘和灭弧性能，因此被广泛地应用于气体绝缘电气设备中。但是在电气设备的运行过程中，不可避免地会产生局部放电等故障[1]。在放电或过热条件下，SF6会分解产生一系列低氟硫化物[2]，进一步的，在微水和微氧条件下，还会产生SO2、SOF2、SO2F2等硫氧化物[3-5]。SF6的分解产物会对电力设备的安全运行及运检人员的人身健康造成危害，因此有必要对设备中的气体成分及含量进行测量，用以监控设备内部绝缘状态[6，7]。

在目前常见的气体检测方法中，光学检测法由于其所具有的测量范围大、可检测气体的种类多、检测速度快、检测灵敏度高等优点，成为了气体检测的理想工具[8]。典型的光学检测法包括差分吸收光谱法[9-11]、可调谐二极管激光器吸收光谱法[12,13]、光声光谱法[14-16]等。这类检测法均基于气体分子对特定波长光的选择性吸收现象。但是，由于气体分子所含的不同跃迁能级，其光谱通常呈现出连续带状。此外，由于分子本身的性质，气体分子在吸收光子后在特定波段上表现出来的谱线并非理想线段，而是具有一定带宽。因此，当吸收峰较为相近的分子处于同一波段的光源照射下时，多种气体分子均会对该光束产生吸收，产生谱线的重叠，这种现象就称为气体分子的交叉干扰。……