改进遗传算法在线阵CCD 检测中的应用研究

2021-08-18 08:33:48吴斌
电子测试 2021年14期
关键词:优化

吴斌

(长春科技学院智能制造学院,吉林长春,130022)

1 研究对象简介

本文研究对象为“光斑在线阵CCD 上成像曲线”的优化处理问题,该问题来源于“光反射法微摩檫测试项目”的光电测试系统[4][5]。其组成为:两套激光发生器、准直聚焦透镜、两套硅传感器、两套线阵CCD 探测器。工作原理为:激光器发出激光,经准直透镜聚焦后入射到硅传感器上,再经其反射进入线阵CCD 探测器的光敏面上,光斑在线阵CCD 上的成像曲线如图1 所示。

图1 光斑在CCD 上成像曲线

分析可知:成像曲线的峰值所在位置应为线阵CCD 光敏面上的光斑反射位置。

综上所述,该光电测试系统的一个重要环节就是CCD 成像曲线的优化处理问题,如何能够快速、精确的定位最大值点及计算其变化量就成为实现该测试系统高精度、高灵敏度的关键所在。

2 数学模型

由图1 可得以下数据:成像曲线最大值所对应的光强值约为275,对于光强值小于100 均认为是光斑未照射点,光斑成像点的像素宽约为200 个像素。由此该优化求解模型可这样建立:

(1)目标函数

根据以上数据,确定以曲线最大光强值275 与搜索点光强值之差为目标函数,其函数表达式为:

(2)约束条件

因为所得光强值最大只能为275,所以确立约束条件为如下表达式:

(3)终止条件

根据实际情况,确立以差值为0 或第i 次差值等于第i-5次到i 次差值的平均值为终止条件,其函数表达式如下:

上式(1)(2)(3)参数定义如下:Δmax 为最大光强275,Δi 为任意取点得到的有效光强,Δj 为任意取点的实际光强,N 为取点次数。……

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