基于靶标辐射元的IR-JST温度反演方法研究

张冬晓,陈志斌,肖 程,秦梦泽

(1.陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系,河北 石家庄 050003；2.中国人民解放军32181部队,河北 石家庄 050003)

1 引 言

红外成像制导以其高精度制导能力以及全天候作战特点,逐渐成为信息化战场上不可或缺的打击手段。但是随着各种干扰技术的日趋成熟,红外成像制导导弹的作战环境变得越来越复杂,使其高精度制导能力受到抑制[1]。为使红外成像导引系统(IRIGS)在复杂作战环境中发挥最大的效能,必须在制导系统的研制和日常维护过程中,对导引系统的抗干扰性能进行实时检测和评估。

目前用于检测IRIGS抗干扰性能的方法主要有外场靶试法和数字仿真法[2]。外场靶试法是在真实战场环境下进行导弹实弹测试,该方法测试精度高且最接近导弹的实战表现,但是缺点是成本高、不适用与日常检测；数字仿真法是目前国内外普遍采用的方法,其核心是用计算机生模拟战场环境及干扰源特征,利用红外景象投影系统将战场图像投射到红外成像导引头来完成评估。此方法的缺点是仿真环境与真实环境很大差别,使得评估结果带有误差。

本文针对数字仿真法的缺点,提出了一种基于热电器件阵列的红外成像干扰模拟靶标,采用热电器件阵列模拟各种干扰手段并置于真实环境中进行抗干扰性能的检测。

2 红外成像干扰模拟靶标生成方法

红外成像干扰模拟靶标用以模拟各类干扰手段,常见的干扰手段有,红外烟幕干扰、红外假目标干扰和红外隐身干扰等[2]。……