半导体芯片老化测试座的应用及市场综述

赵世彧

摘要：老化测试是芯片在交付客户使用之前用以剔除早期失效产品的一项重要测试。为了避免反复焊接，不同封装类型的芯片在老化测试中由特制的老化测试座固定在老化板上。本文对老化测试座的应用进行了介绍，并对当前老化测试座的市场现状及中国测试设备公司的机遇和挑战进行了阐述。

关键词：半导体芯片测试;老化测试座;质量控制;工业应用;市场综述

引言

大多数电子产品的故障率随时间变化的曲线呈浴盆曲线。工业界广泛应用老化测试来加速老化以剔除出现早期故障的产品并确保新电子产品设计的长期可靠性。

1概述

1.1半导体芯片的老化测试

半导体器件的可靠性和典型寿命通常可以用浴盆曲线来描述。这是一个产品寿命随时间的变化图形，如图1所示由三个关键时期组成。第一个时期是早期失效期，特点是产品失效率起始值很高，随后急速下降。这一时期的失效主要是由产品设计、材料、工艺或制造过程中的缺陷和失误引起的。第二个时期正常使用期内的失效是随机失效，失效率低且相对恒定。第三个时期失效率逐渐增加，这是由于疲劳而导致的损耗失效。

为了在交付使用之前剔除可能在早期失效的产品，通常需要进行老化测试。将产品置于高的温度和电压等极端操作条件下运行，以加速通过浴盆曲线上的第一个时期。老化测试是保证在产品使用寿命期间减少失效，提高产品可靠性的有效做法。……