TFT-LCD发粉不良改善及机理分析

汪 栋， 万冀豫， 王 丹， 郭瑞花， 占红明， 陈 希， 邵喜斌

(北京京东方显示技术有限公司， 北京 100176)

1 引 言

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)是目前平面显示器的主流。TFT-LCD包括背光源、偏光片、驱动电路、阵列基板、彩色滤光片基板、液晶层等结构，其中彩色滤光片具有使成像图像彩色化的功能。现在对显示器件的要求越来越高，超高清、高刷新率、广色域、低功耗、窄边框等产品的需求日益强烈。作为彩色滤光片中显色核心的彩色色阻材料，其在着色力、透过率、信赖性等方面也在持续优化中。色阻在其开发与生产过程中，难免会出现一些不良，有些为常见不良，但还有一些不良是需要在特定条件下激发产生[1-2]，比如本文中的发粉不良(Pink Mura)。

所谓的“发粉不良”，是指TFT-LCD模组在高温高湿环境中，持续点屏一段时间后，产品周边位置出现发粉现象，发粉区域约5～10 mm，且随点屏时间延长向产品中间区域蔓延。微观分析显示，周边发粉区域的绿光透过率较高温高湿测试前低约5%，而红光与蓝光基本无变化，从而导致白点坐标偏向粉色区域，引发产品周边发粉。

本文设计了8种不同成分的绿色色阻材料，一方面，在实验室制成微型液晶盒(Mini Cell)，测试其在高温、高湿、光照与氧气隔离等环境中的色度与透过率变化；另一方面，搭配不同尺寸，不同有源层与平坦层，通过液晶面板生产线制成TFT-LCD，测试其在高温、高湿环境中的周边发粉情况，以研究TFT-LCD发粉不良的诱发原因与根本原因，并建立改善方法与机理分析。……