崔江 陈一凡 范士颖 林华 沈勇 王友仁 陈则王
摘要:SiC功率管器件广泛应用在航空领域的电能变换、配电等场合,其健康状况十分重要。在SiC器件的健康监测应用中,导通电阻的检测是一项十分重要的技术。为了能够简单准确地得到碳化硅(SiC)MOSFET功率器件的导通电阻,本文提出了一种基于神经网络的SiC MOSFET器件导通电阻估测方法。本文搭建SiC MOSFET导通电阻测试电路仿真和物理试验平台,并使用BP神经网络(BP neural networks, BPNN)对不同温度、不同栅极电压以及不同漏极电流下SiC MOSFET器件的导通电阻数据进行详细描述。最后,对基于BPNN的SiC MOSFET导通电阻估测方法进行效果验证。结果表明,该方法具有精度高和泛化能力强的优点,能够实现SiC MOSFET器件导通电阻的有效估测。
关键词:碳化硅功率管;导通电阻;神经网络;误差分析;温度特性
中图分类号:V240.2文献标识码:ADOI:10.19452/j.issn1007-5453.2021.09.012
基金项目:航空科学基金(201933052001,20183352030),中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(NS2021021)
随着航空航天技术的飞速发展,高性能、高可靠性、智能化成为未来飞行器发展的主要特征[1]。碳化硅(SiC)MOSFET作为一种新型宽禁带功率半导体器件,具有更低的导通电阻、更高的开关速度、更小的反向恢复电荷和更高的击穿电场强度,在工作条件恶劣、性能要求苛刻的应用环境中十分有利,目前已经成为航空航天电能变换、配电领域研究和应用的热点[2-10]。作为一种功率器件,SiC MOSFET器件工作在恶劣、苛刻的环境中,其电性参数会产生退化现象,进而影响系统的性能,甚至导致电路故障,造成严重的损失。……