DR 平板探测器图像校正方法研究

肖雄晖，吴 伟，梁 毅，廖 翔

(南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，江西 南昌 330063)

0 引 言

平板探测器是数字射线（digital radiography，DR）成像系统中重要组成部分，在工业无损检测、医学等领域有大量应用，其性能直接影响所采集图像的质量[1-5]。在进行DR 成像的过程中，为了避免因暗电流，坏点等噪声影响探测器成像质量，需要进行偏移、增益和坏像素校正。

针对探测器校正方法的研究，有基于图像处理算法，对整幅图像进行校正；也有基于数理统计的方法，分析各像元的分布情况，运用统计学公式进行修正。在图像处理领域，胡云生等[6]提出了一种算法对图像传感器的坏点进行检测和修正，但该方法不能有效修正坏像素簇，有待进一步优化；徐有青等[7]对CMOS 数字图像传感器的坏像素进行检测和补偿，得到修饰过的视频图像在肉眼下无法分辨坏像素，但该法不适用面积较小的缺陷的检测；在统计分析领域，张丰收等[8]对工业CT 的平板探测器基于统计模型按区域模板不同，把坏像素进行分类并对各个区域进行优化插值，能有效消除坏像素造成的伪影，该方法对工件投影图像进行分析，会对图像造成损伤，产生漏检的风险；徐燕等[9]对用于牙科CT 的平板探测器进行了空气投影图像校正，有效抑制了重建切片环状伪影的产生，但该方法不能有效进行增益校正；闵吉磊等[10]对PE0822非晶硅平板探测器进行了暗场、增益和坏像素校正，发现校正过后提高了DR 图像的质量，但是该方法过分依赖于厂家给出的校正文件，当管电压较低的时候，无法得到准确的校正。……