应用能谱-扫描电镜分析铜矿床伴生元素的赋存状态

王冠， 戴婕， 王坤阳， 杨颖， 胡志中

(中国地质调查局成都地质调查中心, 四川 成都 610081)

铜矿床的伴生元素Co、Ag、Au、Pd、Pt、Fe、Cd、Bi、In、Tl、Se、Te等都具有较高的经济价值，而目前这些伴生元素没有获得有效应用，其原因在于没有相应的研究方法对这些伴生元素进行深入研究，使其赋存特征不清楚，直接影响了原生铜矿床的评价、开采和选炼[1-6]，进而影响了铜矿床的价值和开发技术路线的设定，导致资源流失较为严重。

传统的化学分析方法[7-8]可以测定铜矿床成矿元素含量，现代大型分析仪器如X射线荧光光谱法(XRF)[9]、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)[10]可以解决伴生元素的微量分析问题，但上述方法均是通过样品的碎样加工、溶解或是粉末压片分析，其结果反映的是岩石矿物的整体状况，不能反映矿物的个体信息[11]。光学显微镜鉴定虽然能提供一定粒径的矿物学相关信息，但由于一方面受到光学显微镜放大倍数的制约，另一方面受到矿物本身的限制(如矿物被氧化、蚀变、包裹等情况)，矿物的光性特征会随之发生一定的变化。铜矿床中的伴生矿物往往颗粒细小，从微米级到纳米级，元素或以类质同象[12]形式存在于其他矿石矿物中，以往由于技术条件的限制而难以被发现和利用。就铜矿床中常见的金矿物而言，自然金是原生金矿石最主要的金矿物，在扫描电镜(SEM)出现以前，只有粒径大于200μm的金矿物才能被光学显微镜发现，而现在的电子探针、扫描电子显微镜[13]已能观察、测定纳米级的矿物[14]。……