西安200 MeV质子应用装置同步环线性光学测量与校正

2021-11-10 13:04:54王敏文叶文博刘晓宇姚红娟郑曙昕刘卧龙王茂成赵铭彤闫逸花王百川王忠明
现代应用物理 2021年3期
关键词:测量模型

杨 业, 王敏文, 叶文博, 刘晓宇, 李 岩,姚红娟, 郑曙昕, 刘卧龙, 王 迪, 王茂成, 赵铭彤,闫逸花, 张 辉, 王百川, 吕 伟, 王忠明†

(1. 强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室, 西安 710024;2. 粒子技术与辐射成像教育部重点实验室, 北京 100084;3. 清华大学 先进辐射源及应用实验室, 北京 100084; 4. 清华大学 工程物理系, 北京 100084)

西安200 MeV质子应用装置(Xi’an 200 MeV Proton Application Facility, XiPAF)是国内首台满足空间质子单粒子效应考核要求的实验装置,该装置由7 MeV直线注入器和200 MeV同步加速器组成[1-3]。调束阶段,由于存在准直偏差和磁铁磁场偏差,同步加速器的线性光学与设计会有偏差。为建立准确的机器模型及优化注入、加速和引出效率,线性光学测量与校正是环形加速器调束过程中关键且必要的一步。表征环形加速器状态的线性光学函数包括工作点、β函数、色散函数和色品。常用的线性光学校正方法有2种[4]:第1种是基于闭轨响应矩阵的校正方法,该方法主要用于轻子储存环的线性光学校正[5-7],也可应用于中小型强子同步环的线性光学校正[8-9],但受限于束流位置探测器(BPM)的测量噪声,模型校正效果有限;第2种是基于束流逐圈位置的校正方法,需要激励起较大幅度的束流质心振荡,在强子和轻子环形加速器中都有应用[10-12]。

当前,调束在临时厂房进行,BPM逐圈位置测量噪声比较大,基于束流逐圈位置的测量与校正方法的效果不太好,因此采用了基于闭轨响应矩阵的校正方法和LOCO(linear optics from closed orbits)程序[13-14]进行线性光学校正。本文首先介绍了工作点、β函数、色散函数和色品的测量方法与结果,然后改进了LOCO程序,使之适用于低能质子同步加速器的线性光学校正,最后给出了基于改进后LOCO程序的校正结果。……

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