基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试研究

申雅玲

摘要：目前大部分的系统级芯片都配置了异步信号，以自动测试系统为基础无法进行稳定的测试工作。利用外挂Flash芯片的优势对被测试的系统级芯片进行功能配置操作，自动测试系统就能自动地检索和相关的功能，并且能在自动检测系统中对系统级芯片的信号进行稳定的测试。值得注意的是，系统级芯片中汇集多个集成电路，其中主要包括嵌入式软件和硬件系统。它的两个较为显著的特点为：软件化的比重较大，硬件的规模较大。在单一的芯片上就具有较多的集成电路，能提升面积的利用率，减少不必要的成本。系统级芯片在可靠性、使用性能以及成本方面具有明显的优势，所以要对集成电路的设计工作进行重点把控，为IC产业的发展提供助力。

关键词：自动测试系统;异步信号;系统级芯片

引言：现阶段，系统级芯片的体积越来越小，应用功能越來越丰富。因为其中汇集多种集成电路，增加功能测试的难度。技术人员要对测试的成本和稳定性进行重点把控，明确它的参数和功能性，制定切实可行的测试方案，有效地解决现在的困境。此外，要对系统级芯片的异步信号问题进行控制，保证测试稳定性。

一、运行原理

第一，系统级芯片的基础信息。图一中就是被测器件的主要功能。其中PPC460的作用为对数据进行处理、解析相关的协议、变换原有的坐标，能在专属的IP范围内对数据进行统一的处理和控制。

第二，系统级芯片的传输特征。……