钼的X射线荧光分析方法及其在高压开关用塑料质量控制中的应用

杨 韧， 王 青， 岳宣峰*

(1.国网陕西省电力公司电力科学研究院，陕西西安 710048；2.陕西省生命分析化学重点实验室，陕西师范大学化学化工学院，陕西西安 710062)

高压开关的性质决定了其腔体材料需具有耐高温高压，较好的抗电晕、抗电弧以及绝缘性能。聚四氟乙烯(PTFE)作为一种最新型的特种工程塑料，常用作高压开关腔体材料的主原料，但其硬度小、耐蠕变性及耐磨性差[1]。目前国内外通过向塑料中添加MoS2以改善聚四氟乙烯塑料的综合性能。MoS2是一种常用的无机改性添加剂，已被用于高压开关腔体制造行业[2]。但关于MoS2这种添加剂功能的理论基础还在研究之中。添加一定量的MoS2可以有效增强高压开关材料PTFE的电气学性能。根据目前的报道，发达国家高压开关用PTFE塑料中MoS2的质量含量一般在0.1%～0.3%之间，含量过高会影响PTFE的机械强度方面的性能。因此，对PTFE塑料中Mo的含量测定是功能型高压开关塑料材料质量控制的一个重要环节。

目前，对塑料中微量或痕量物质的测定，常用的有气相色谱-质谱法[3]、电感耦合等离子体法[4]、原子吸收光谱法等[5]。但这些方法均要求把样品处理成液体形式进行测定，因此需要对样品进行湿法预处理。塑料样品一般是通过消解法[4]和干法灰化[6]进行预处理的。消解法中常用HCl、HNO3、HClO4及混合酸等对样品进行消解处理[7]，但对于具有耐酸耐碱及抗腐蚀的PTFE塑料为湿法处理提出了极大挑战[6]。而采用干法灰化处理PTFE温度需要在600 ℃以上，这个处理过程往往伴随着样品中金属元素的流失，大大降低测量的准确度[8]。……