植物叶片扫描电镜样品不同处理与观察方法的研究进展

刘 乐 王文可

（河南师范大学生命科学学院 河南新乡 453007）

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM） 自1973年[1]开始用于观察植物叶表皮的微观形态。大多数SEM 成像是利用高真空下的二次电子探测器处理，得到植物的器官，特别是表面结构如毛状体、气孔、保卫细胞等的伪三维图像[2]。比起运用光学显微镜进行植物样品的观察，SEM 可以观察到更加细微的结构特征，更清晰地展示出植物表面的微形态特征，从而对未知植物进行鉴定[3-4]。现阶段对植物叶片样品的处理方式有多种，文章主要对叶片处理过程中固定、脱水置换、干燥及样品观察的不同研究方法进行了归纳比较，并对相关研究进展进行讨论，为研究者有效地进行SEM 叶片制样及观察提供一些有用信息。

1 SEM 叶片样品制样要求

样品的预处理对后期观察效果有一定影响，若是处理叶片的方法不当，叶片很大可能会产生皱缩，影响叶片形态结构的观察与分析。在进行SEM 植物叶片样品的制备时，应满足以下要求：（1）样品的导电性好，不会产生荷电效应[5]；（2）样品要尽可能处于干燥状态，若样品中有水分，水分挥发会造成图像模糊、损坏电镜部件等；（3）样品的热稳定性好，避免分解释放的气体或其他物质污染仪器；（4）样品不能具有磁性[6]。

2 SEM 叶片样品的处理

2.1 不同固定方式对样品成像的影响

大部分植物叶片在脱水前需要进行固定处理。经过固定的样品，在脱水及导电处理等后期制样时，样品的结构不易改变，更易保持原有叶片的形态[7]。……