军用电子元器件的可靠性强化试验方案研究

韩璞辉　刘娟

在军用电子元器件的开发程序中，必须要经过十分严格且多次的验证试验，用来验证元器件是否符合通用标准。可靠性强化试验是最主要的验证试验之一，它对于识别元器件的弱点和加强元器件的可靠性十分重要。

可靠性强化试验需要在军用电子元器件的机理的不改变的前提下，不断施加越来越大的环境应力，以快速地发现军用电子元器件中的质量薄弱点。可靠性强化试验能够有效地发现电子元器件的质量缺陷，从基础上为电子产品的可靠性把关，因此是世界范围内常用的质量考核手段之一。

本文设计改进原有的强化试验方法，创造了更加合理的试验环境，以期增强军用电子元器件可靠性强化试验的效率。

（一）传统可靠性强化试验方案的薄弱点分析

常用的传统增强可靠性的试验计划中进行相同类型的单个试验，可以有效地提高一些具有高可靠性和低故障率的产品的测试效率。

然而，对于军用电子元器件来说，单一的可靠性强化内容不一定会触发故障点，引发故障，但是在连续试验内容或者在更大的应力下，会引发次生故障，可能会对后续试验的过程造成影响。如果在可靠性增强试验期间有任何部件产生故障，就会增加修复时间，造成试验进程效率低下。在可靠性试验前，这些电子元器件已经过环境测试，一定程度上会导致其可靠性下降;然而传统的测试，故障出现的概率虽然是随机的，但是与试验顺序的安排、施加应力的大小、试验强度对引发故障的门限阈值都有关联，因此需要对可靠性强化试验作出调整。……