军用电子元器件筛选的可靠性模型研究

李娜　杨恒

电子元器件的可靠性筛选是指通过鉴别性能良好的电子元器件和诱发有潜在缺陷的电子元器件失效的方式，保证整机系统的性能。本文通过对军用电子元器件筛选可靠性模型的分析与建立，明确了器件的退化失效模式和其所对应的冲击损伤量之间的函数关系，为进一步甄别筛选失效器件提供了严格的数据模型，此外，还可以借此进一步完善军用电子元器件筛选的可靠性模型和设计方案。因而，军用电子元器件筛选可靠性模型的建立与应用对于军用电子元器件的可靠性筛选具有重要的理论与现实意义。

当军用电子元器件总退化量XS（t）超出其退化失效阂值TS时，器件会失效。为建立器件的退化失效模型，首先应计算产品的总退化量：

式1中，X（t）表示产品的总退化量，X（t）表示产品自身的退化量，Y（t）表示由于随机冲击过程所带来的累积突增退化量。假设器件的自身连续性退化进程为线性退化，可以将以上模型简化为：

以上就是元器件失效判据的可靠性模型，考虑到冲击类型的种类繁多，以及失效阈值和器件退化量之间的线性关系，现有的可靠性模型可以通过分类讨论进一步明确冲击损伤量和产品可靠性之间的关系。

通过对元器件上的器件进行高温反偏试验，观测器件在高温反向偏置时的退化情况来验证其芯片电流泄露，检测其高温性能和可靠性水平，同时对建立的可靠性模型进行验证。对器件进行电学特性测试，其参数包括VF@5A，VR@0.1mA，IR@1200V。……