基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统设计研究

钟洋，卢刚，王伟豪

（中电科蓉威电子技术有限公司，四川成都，610074）

0 引言

相控阵天线快速测试系统适用于相控阵天线紧缩场指标测试与通信终端测试，能够高效的完成2GHz～40GHz（可扩展至110GHz）频段内天线的指标测试功能。满足传统测试场功能，兼备相控阵天线测试针对性能功能：相控阵天线自动/手动方向图测试、收发方向图加权调试、幅度/相位方向图测试、全域指向精度测试、相位中心测试、幅相校准测试、波束宽度测试、轴比测试、波束跃度测试、旁瓣抑制、远副瓣抑制、P-1dB 点测试、EIRP、G/T、EVΜ 测试等测试。

同时系统采用分布式测试系统控制功能分散、操作管理集中的基本设计思想，使用多层分级，合作自治的结构形式，由过程控制和过程监控组成的以通信网络为纽带的多级系统，综合了计算机技术、通讯技术及显控技术等。

系统把计算机、仪器仪表和综合控制技术融合在一起，配合专门开发的软件，可以实现测试数据自动话采集及处理、工艺过程画面显示、参数超门限报警、故障报警和测试结果报表打印等功能。同时，系统设置有安全操作权限级别，既方便了管理，又使系统运行更加安全可靠。

在天线批量生产过程中，相同的产品需要测试任务雷同，制定完整的生产流程，能有效提高生产效率。

1 系统组成

本系统由反射面及馈源子系统、转台子系统、射频子系统、控制子系统、软件子系统、微波暗室子系统等组成。

图1 测试系统组成框图

■1.1 反射面及馈源子系统

反射面及馈源子系统主要由反射面、馈源、安装支架等组成。……