一项新技术可能会使作物的根系培育更深。这种非破坏性过程包括快速检查植物的叶子,以了解其根系深入土壤的程度。
深根植物比浅根植物更耐旱,因为它们的长根能够进入地下水位,而短根无法进入地下水位。深根植物也更善于吸收氮等养分,而这些养分往往会随着雨水或灌溉水深入土壤。
还有一个减少温室气体排放的好处是,植物的根扎得越深,其捕获的大气二氧化碳在土壤中锁定的时间就越长。这是因为二氧化碳是由叶片吸收并带入根部的。
出于这些原因和其他原因,作物科学家一直在努力培育根系更深的作物新品种。
目前,检查根系长度的标准方法是在试验地里挖出多株植物,然后用卷尺测量它们的根系。这个过程不仅费时费力,而且在研究后期无法再次测量这些植物的根系,因为它们不会被重新种植。
一项新的根部测量方法(LEADeR)由美国宾夕法尼亚州立大学的乔纳森·林奇教授及其同事创造。这项技术的基础是,在任何给定的农田里,不同的矿物质和其他元素存在于土壤的不同深度。当植物的根系向下生长到土壤中时,就会吸收这些元素,并将其带入叶片。因此,通过观察叶片中含有哪些土壤元素,就可以知道根系目前已经向下生长了多远。当然,首先需要知道哪些元素位于哪个深度,这可以通过采集和分析有关田地的初始土壤核心样本来确定。
在这项研究中, 乔纳森· 林奇教授团队在美国4个地点种植了30个不同基因的玉米品系,并在6年时间里对这些地点的土壤和叶片进行了检测。叶片分析则在现场使用手持式X射线荧光分光光度计进行。对于根系长度在30厘米或更长的植物,LEADeR的精确度与传统的根系测量技术不相上下。
尽管如此, 在某些试验地块中,不同土壤深度的不同天然元素之间可能没有明确的界限。在这种情况下,可以在种植作物之前,将锶等“示踪元素”埋入已知深度的土壤中。一旦锶开始在叶片中出现,作物科学家就会知道根系已经到达了那个深度。
重要的是, 虽然研究中使用的是玉米,但LEADeR应该适用于所有类型的植物。
“ 要培育根系更深的作物, 你需要观察成千上万株植物。把它们挖出来既费钱又费时,因为有些根系深达两米或更深。”乔纳森·林奇教授说,“每个人都想要深根作物,但直到现在,我们还不知道如何获得它们。”
有关这项研究的论文最近发表在美国《作物科学》杂志上。( 综合整理报道)(策划/罗媛)