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2016年6期

刊物介绍

本刊是目前国内唯一以电子封装为主的技术刊物。

电子与封装

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  • Sn-Cu-Ni系无铅钎料的研究现状
  • TO型封装的真空储能焊密封工艺研究
  • SiP封装传感器中金丝可靠性设计与分析
  • 纳米级无机粒子对环氧树脂胶黏剂击穿电压的影响
  • 功率MOSFET器件栅电荷测试与分析
  • 基于UltraFlex的多时钟域电路测试方法
  • FPGA芯片时钟架构分析
  • CMOS工艺中等离子体损伤WAT方法研究
  • 一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法
  • 元器件二次筛选过程中的质量控制
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